光学尺是一种测量长度的工具，主要用于精密测量和加工过程中的定位、标定和检验。它是一种基于干涉原理的测量仪器，其具有高精度、速度快、量程宽、抗干扰性强等特点。
光学尺的基本原理是利用光的干涉，通过确定相邻干涉条纹之间的距离而进行精密测量。通常，通过将激光光束分为两路，引入样品端（被测量对象）和参考端（比较端）两个反射器，使得两路光线在干涉面上发生干涉，进而通过在信号处理器中进行波形分析、编码计数等操作，获得被测长度值。因此，光学尺的测量精度主要取决于干涉条纹的清晰程度和模拟转换装置的精度。
光学尺按照原理和用途分类有多种不同的类型。其中，常用的有：
1. 反射式光学尺：利用反射板或者反射棱镜将激光光束反向传回取像光栅，再通过信号处理等部分得到测量结果。
2. 投射式光学尺：将激光光束直接照射样品端，然后再经过参考端反演回被测信号，利用其与一定标准相比而获得测量值。
3. 介电质光学尺：用于高电压直流电测量，通过注入恒定高压的介质，使得带电粒子在介质中产生微小的移动，进而对光学尺的反射光信号产生相位变化，获得电压测量结果。
光学尺广泛应用于精密加工、机床控制、半导体制造等领域。它作为一种高精度的测量工具，已经逐渐被广泛采用并取代了传统的线尺、划线笔等工具。光学尺还经常和机电一体化技术相结合，形成智能化控制系统，以提高加工精度和效率。
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