ADC是模拟信号转换为数字信号的重要组成部分，通常需要将模拟信号量化成数字信号，以便数字电路和数字系统进行处理。位数是ADC中一个重要的参数，表示转换的数字输出是由多少个二进制位组成的。比如，一个12位ADC产生的数字输出就由12个二进制位组成。
ADC的位数决定了它的分辨率，即它可以表示多少个不同的输出数值。一个n位ADC可以表示2的n次方种不同的数字化数值。因此，随着位数的增加，ADC的分辨率也会增加，数字输出越接近于原始模拟信号。
ADC的精度是指由ADC转换的数字信号和实际的模拟信号之间的误差。对于一个n位ADC，其最大量化误差是由量化步长决定的，即量化步长等于ADC参考电压的范围除以2的n次方。例如，一个12位ADC的量化步长大概约为0.024%的参考电压，因此，所有的数字输出都将在这个误差范围内。
显而易见的是，要达到更高的精度，需要更高的ADC位数。如果系统需要更高的ADC精度，可以考虑将一个低位数的ADC与数字信号处理器（DSP）或微控制器（MCU）结合起来，通过软件算法实现更高的分辨率。这种方法通常被称为过采样。
选择正确的ADC位数对于系统设计和性能至关重要。一般来说，选择足够大的位数是比较保险的。然而，ADC位数过高也会导致成本和功耗的增加，所以需要综合考虑。
如果系统需要高精度的量测，并且数据采集速度较慢，则选择高分辨率的ADC比较合适。如果速度很重要，而精度不是主要考虑因素，则可以考虑低一些的位数。通常来说，8位或10位的ADC足以应对许多应用场合，12位或14位的ADC适用于较高要求的应用。
为了使低位数ADC在高精度量测中发挥更大作用，ADC位数扩展技术得到了广泛应用。最常见的技术是过采样，即通过重复采样并结合数字滤波技术，以获取更高的有效位数。
另外，有一些专业的DAC也有一些独特的调节输出电压和精度的方式。比如在电力、电压和电流测量领域有广泛应用的超引晶ADC将ADC与引晶技术结合，可以大大提高ADC精度，并且实现更小的量化误差。
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