雷达物位仪是用于测量液体、粉体和固体等物料的位置和高度的一种仪器。它采用雷达技术和微波信号测距原理,实现物料的非接触式测量。雷达物位仪的测量原理是什么呢?
微波信号在真空中的传播速度为光速,而在介质中传播时速度会发生变化,并且会发生反射、折射和漫反射等现象。当微波信号遇到物料时,一部分信号会被反射回来,另一部分信号则会穿过物料到达另一侧。雷达物位仪通过对反射信号进行测量,就可以确定物料的位置和高度。
时域反射测量原理是雷达物位仪测量物料的常用原理之一。该原理是通过测量微波信号在发射与接收之间的时间差,从而计算出物料的距离。具体来说,雷达物位仪会向物料发射短脉冲信号,然后测量反射回来的信号与发射时的信号之间的时间差。时间差越短,反应出物料越近。
采用频率调制连续波测量原理的雷达物位仪会像物料发射连续的微波信号,并且该信号的频率会被调制。物料会反射回一部分信号,而调制信号也会返回发射信号处。通过测量返回的信号与发射的信号之间的相位差,就可以计算出物料的位置和高度。因此,频率调制连续波测量原理通常比时域反射测量原理更加精准。
多普勒效应测量原理是通过测量物料的相对运动速度来计算物料的位置和高度。雷达物位仪向物料发送微波信号,在物料反射信号回到雷达物位仪之前,物料会移动,从而导致信号波长的变化。利用多普勒效应可计算出物料的相对运动速度和距离,进而确定物料的位置和高度。
综上所述,雷达物位仪测量原理是利用微波信号的传播及反射特点,采用时域反射测量原理、频率调制连续波测量原理和多普勒效应测量原理等一系列原理,从而实现对物料位置和高度的准确测量。