TRL校准是微波电路常用的三项校准方法之一(另外两种是SOLT校准法和阻抗匹配校准法)。TRL校准可以消除任意形状的器件引入的固有误差,适用于微波元器件、天线等各种器件的测量。
TRL校准一般都采用TRL校准件来完成。TRL校准件是一种几何形状合理、电特性稳定、精度高的参考器件,由嵌入在电路板上的标准电阻、电感和电容器等元器件组成。
TRL校准件通过提供已知的参考电阻、电容、电感值作为电路中的标准点,完成对待测器件的校准。
TRL校准件可以用于S参数的测量校准。它可以使具有任意连续复杂形状的电路元件之间的相关矩阵的测量结果变得可靠。
TRL校准件由三个部分组成:T、R、L。其中T部分包含一对互补传输电线,用于产生反射参考面;R部分是一组标准负载电阻,用于产生可靠的可测量的反射参考;L部分包含一组前面和后面的标准延迟线(如φ/2或φ/4线),用于产生可靠的传输参考比较。
TRL校准件一般分为三种类型: