TAP是Test Access Port(测试接入端口)的缩写,是一种由IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers)定义的标准协议,用于在设计和生产过程中进行芯片级的测试和诊断。
TAP由两个主要部分组成:一个4或5个管脚的物理接口和一个标准的协议。TAP协议定义了如何读取和写入设备的内部寄存器,如何配置设备以进行测试。
在现代电子产品中,芯片是不可避免的核心组成部分。TAP作为芯片测试的协议,起着至关重要的作用。它可以在设计和生产的过程中提供各种检查和测试,可靠性测试、功能测试和功能验证等。
TAP还可用于测试引脚和外部接口,以确保设备可以与其它系统或设备的通讯。
使用TAP标准协议进行测试和诊断的最大优点是,TAP的实现和集成非常容易,它可以与标准数字接口(如JTAG)集成,从而进行快速和可靠的测试。
TAP还提供高效的数据传输,可通过测试端口在芯片和外部设备之间传输较大的数据量。此外,TAP具有跨平台的兼容性,可在多种设备和处理器体系结构之间工作。
TAP是JTAG(Joint Test Action Group)标准的一部分,但并不仅限于此。TAP和JTAG的主要区别在于,JTAG是一种测试模式,而TAP是一种测试协议。
JTAG可以使用TAP协议进行测试,同时还可以通过其他接口进行测试和诊断,如Boundary-Scan和IEEE 1149.6标准。