dft

DFT，即可测试性设计(De并亚乎sign for Testability, DFT)是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段来自植入电路，以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易，这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。

• 中文名称 DFT
• DFT 可测试性设计
• 密度泛函理论 Density Functional Theory 

　来自　DFT:

　　Discrete Fourier T360百科ransform 离散傅里叶变换的缩写

　　DFT可测试性设计(集成电路设计技术)

　　总之，在设计便配纸点阶段添加这些结构虽然增加了电黑承丰父植肥路的复杂程度，看似增加了成本，但是往往能够在测试阶段节约更多的时间和金钱

　　DFT

　　D养范配神诗出供换附ensity Fun校期条富制病克蛋神等ctional Theory 密度泛函理论

　　DFT

　　Dry film thickness(干膜厚度)指漆膜实干后的涂层厚度