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测厚仪

测厚仪来自(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢素磁着阶阿带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。

这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿夫跟美革下透衰减特性;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。

  • 中文名 测厚仪
  • 外文名 thickness gauge
  • 作用 测量材料及物体厚度
  • 主要类型 超声、磁性、涡流、同位素等
  • 学科 传感器科学

介绍

在线测厚系统能够有效提高生产质量

  测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度,并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和来自自动厚度控制系统,以实现对板带厚度的自动厚度控制(AGC)。 目前常见的测厚仪有γ足离耐宽顶章千现射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种,其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时360百科要在可能的条件下尽量靠近工作辊,目的是降低板厚的滞后调整时抗践吃帝间。

主要类型

  用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修介对曲时必须测量其厚度,以便了解材料的厚薄规格,各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度,以保证产品质量和生产安全。根据测定原理贵计振州万消它德的不同,常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。

  超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的,但在同一介质中声速是一常数。温这求尔素超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射,测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间,即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用最广的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉历染周较华锅筒、受热面管子、管道等的厚值影轻汽煤若月房行项帮度,也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的,体积与小型半导体收音机相近,厚度值的显示多是数字式的。对于钢混报察居内材,最大测定厚度达2000 mm风起面左右,精度在±0.01~±0.1 mm之间。

  磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时,测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。

  涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时,由于高频磁场的作用系得而使金属体内产生涡城烟仍会无科流,此涡流产生的磁场又反作用于句缺危被坏顺探头线圈,使其阻抗发生变化,此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关,因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜鱼怀刚固始代正象额乡表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

  同位素测厚仪利用物质厚口纸度不同对辐射的吸收与散射不同的原理,可以测定薄钢板、总站酸胡场红当议儿敌薄铜板、薄铝板、硅钢片、合因后块危流地知财金片等金属材料及橡胶片,塑料膜,纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

使用注意事项

  测厚仪的测试方法主要有:来自磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。

  测量注意事项:

  ⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

  ⒉测量时侧头与试样表面保先永武情失想持垂直。

  ⒊测量时要注意基体金属的临360百科界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

  ⒋测量时要注意部且弱和背风苦试件的曲率对测量的影局工草尽秋音候响。因此在弯曲的试件史怕握品正表面上测量时不可靠的。

  ⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。

  ⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处后压参绍感出测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

  ⒎在测量时要保持压力的恒定宗乎却,否则会影响测量的读数。

  ⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进春见围八行对侧头清除附着物质。

  1、激光测厚仪是利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产与胶鲁青诗滑流品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接,并迅速处理数据造北针贵掉换扬批并输出偏差值到各种工业设备。

  2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的音判使续背哪变化与材料的厚度相关的特性色层紧且损你算变,沧州欧谱从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。

  3、纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

  4、薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

  5、涂层测厚仪:用于测量铁及等府减非铁金属基体上涂层的厚度.

  6、超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当卷旧探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。苏克凡能使超声波以一恒候院难处点伤定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

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