压敏电阻作为一种广泛使用于电子元件中的敏感元件,具有体积小、价格低、响应速度快等优势。但是在使用过程中,会存在因压敏电阻内部材料或结构异常而导致爆炸的情况。
其主要原因在于,在使用过程中出现电流过大或过压等情况,压敏电阻内部材料在瞬间发生相变,产生高温和高压,从而使得压敏电阻壳体破裂,导致爆炸。
过高的过压是压敏电阻爆炸的主要原因之一。当过压超过压敏电阻额定电压,电压会被导电介质打破,产生局部电弧,导致介质热量瞬间升高。这时,介质内部的材料在瞬间被加热,引起晶粒生长、相变和冷却,导致材料的应力集中,在最弱点处形成微裂纹。当这些裂纹扩展到了材料的强度极限时,压敏电阻就可能发生爆炸。
过大的电流也是压敏电阻爆炸的重要原因之一。当电流超过压敏电阻的额定电流时,会导致压敏电阻的内部材料达到瞬时高温高压的状态,从而导致爆炸。
除了过大的电流外,电流的瞬时变化也可能导致压敏电阻的爆炸,这时的爆炸原因与过高的过压类似,都是因为产生了局部电弧而导致介质破裂和高温高压。
压敏电阻的内部材料或结构异常也会导致压敏电阻的爆炸。例如,由于生产工艺或质量控制不到位,可能导致压敏电阻内部存在气泡、夹杂物、缺陷等问题。这些问题会影响压敏电阻的性能和稳定性,在压力或电流作用下,会导致压敏电阻的爆炸。
此外,压敏电阻的引线接触不好或焊接不牢固,也会导致电阻过热、局部融化和爆炸等问题。