SWD和JTAG都是针对芯片的编程和调试技术。SWD是一种新型的调试接口技术,全称为Serial Wire Debug,通过只用两根线实现了调试器和被调试器之间的数据通信。JTAG全称为Joint Test Action Group,是一种测试和调试电路的标准接口,它可以通过链式连接的方式向实际的设计逻辑电路中插入特定模块。
SWD技术相较于传统的JTAG技术,具有一下几个优势:
(1)只使用两根线,大大简化了硬件连接,成本更低;
(2)支持更高的调试速度,简化了调试过程,提高了工作效率;
(3)可与其他接口共用,解决了JTAG占用IO资源过多的问题;
(4)支持更加丰富的调试功能。
JTAG技术适合于处理器和FPGA等数字电路的测试和调试。其基本原理是在芯片内部构建一条测试/调试链,在每个单独的模块之间插入测试逻辑。可以在链路的任何位置插入读和写操作,以采集测试结果,或者对设计的元件进行编程和调试。
JTAG技术广泛应用于数字电路的设计和测试中。在数字电路的测试中,主要利用JTAG技术进行工艺测试和逻辑测试。在工艺测试中,主要用于控制生产制程,进行产能测试和减少制造次品数量。逻辑测试上,则主要应用于验证硬件设计的正确性。
在实际应用中,SWD和JTAG的选择应该遵循以下原则:
(1)单片机对于SWD支持的好与坏,调试器的驱动程序支持程度与质量;
(2)调试要求的复杂程度;
(3)环境的差异性,如噪声、是否有其他信号干扰。
如果希望花费更少的时间和精力来实现复杂的测试,或者需要更高的调试速度和丰富的调试功能,那么就应当选择使用SWD作为其调试接口。而 如果需要背景调试和加密,或者需要支持更多的芯片和设备,那么就应该选择使用JTAG。