PN结是半导体器件中最基本的构件之一,也是阈值电压形成的前提条件。PN结的形成需要P型半导体和N型半导体的结合,P型半导体提供空穴,N型半导体提供自由电子,在结的两侧形成电场。当外加电压施加于PN结上时,电场将会发生变化,导致电子和空穴被注入到另一侧。当外加电压达到阈值时,电场会突破PN结,导致大量的电子和空穴流动,形成电流并发生电压降。在此时的电压被称为阈值电压。
此外,PN结也具有整流的特性。当外加电压反向时,PN结会被反向偏置,电路中也不会有电流通过。这种pn结的整流作用使它成为各种半导体器件的基础。
阈值电压与半导体的类型有关,目前常用的半导体材料主要有硅(Si)和砷化镓(GaAs)等,它们的内禀属性也不同。硅是一种间接带隙半导体,在它的能带结构中,价带与导带之间有一个很大的能隙。因此,在硅中电子激发到导带需要吸收能量,这种热激发过程导致了硅中载流子的低浓度。砷化镓则是一种直接带隙半导体,它的导带紧贴着价带,因此载流子浓度较高。因此,在同等条件下,砷化镓的阈值电压要比硅低很多。
器件工艺也会对阈值电压产生影响。例如,在CMOS工艺中,阈值电压主要受到渗透氧(PSG)的影响,PSG是一种在硅表面形成的高边缘浓度氧化物层。在CMOS工艺中,PSG层通常会被用来调整nMOS晶体管与pMOS晶体管的阈值电压。
另外,晶体管的尺寸也能够对阈值电压造成影响。当晶体管的物理尺寸缩小时,通道长度也相应缩短,这会导致阈值电压的上升。因此,随着工艺尺寸的不断缩小,为了保证正常工作,需要采取新的工艺技术来降低阈值电压。
半导体材料的电阻率随着温度的升高而降低,这也会影响阈值电压的大小。当温度升高时,载流子的浓度也相应增加,这会导致在一定温度区间内阈值电压随温度而下降。但当温度达到一定高度时,带隙缩小效应会逆转这一趋势,导致阈值电压上升。
总的来说,阈值电压的大小与多个因素有关,包括PN结的特性、半导体材料的类型、器件工艺以及温度等。这些因素的相互作用形成了丰富的阈值电压特性,为现代电子器件的设计和制造提供了丰富的可能性。