Latch up是一种电路故障模式,也称为“死锁”或“正反馈失效”。它可以发生在集成电路中的MOS器件或集成电路中有两个或多个PNP或NPN晶体管的场合中。
Latch up通常是一种致命的电路故障,导致电路失去控制并损坏器件,进一步影响整个系统的工作。
当两个或多个PNP或NPN晶体管形成一个正反馈回路时,就会出现正反馈失效,并形成一个稳态电压。这种稳态电压可以导致器件过分电流,并导致系统硬件的失效。发生正反馈的主要原因是器件发生电荷注入,特别是在高温或高辐射环境下。
Latch up也可以由于在器件上的操作错误,例如将器件过度偏压或在连续时间的闩锁状态中进行交替操作导致的。缺陷制造过程也可能会导致手机高其故障率。
Latch up会导致整个系统的停滞和失真,对电路的正常功能产生严重影响。其影响包括:
一系列工艺和设计策略已经开发出来,以降低Latch up发生的概率。例如:
通过这些方法,可以减少Latch up的可能性,提高系统的可靠性和稳定性。