近场测量是一种物理量测量方法，常用于信号分析、地质勘探、材料分析、无线电频谱等领域。近场测量的基本思路是通过在物体表面上放置一个测量装置，测量物体表面的电磁场分布，进而推算出物体的各种参数。
之所以称之为“近场”，是因为测量时所用的测量装置要与被测对象表面距离非常近，一般要小于波长的一半，这种距离被称为“近场距离”，而测量结果只适用于近场内的物体表面。
近场测量的原理基于麦克斯韦方程组。假设被测物体表面包含了某个电子器件，当输入一个某个频率的电信号时，其会在电子器件中产生电场与磁场，进而在器件周围产生电磁波。在距离器件表面非常接近的距离处，测量仪器可以测量到电磁波的强度和相位差，并据此推算出物体的电磁性质。
由于测量的距离很短，这种方法对被测物体发射的电磁波的强度、频率和相位的变化非常敏感，因此可以高精度地测量出物体表面的各种性质，例如电介质常数、磁导率、电导率等。
近场测量广泛应用于物理、化学、地质勘探、电子工程、计算机硬件等各个领域。其中，近场电子显微镜是应用比较广的技术之一，它可以对物体进行高分辨率的成像，能够观测到非常微小的物质结构和器件内部结构等。此外，还可以用于材料分析、电磁波辐射、无线电频谱测量等方面，对于器件的测试、故障分析等有重要的作用。
随着现代信息技术的不断发展，近场测量技术也在不断发展完善。目前，近场测量技术已经发展出许多变体，如扫描探针显微镜、原子力显微镜等，能够更加精准地进行成像和测量。而在应用领域方面，近场测量也逐渐应用于生物医学、人脑科学等新兴领域的研究中。
未来，随着新型器件和技术的诞生，近场测量技术将会进一步发展。在电子工程领域，近场测量技术有望成为未来电子芯片测试和信号调制的重要手段；在物理学领域，近场测量技术有望帮助科学家更好地观察和解释微观现象。
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