天线测量是一个研究天线性能和天线参数的过程。在天线测量中,使用一系列技术来分析天线的性能,这些技术包括天线方向性、接收机灵敏度和增益等参数,以及天线阻抗匹配和驻波比等参数。
根据测量的对象,天线测量可以分为天线性能测量和天线场强测量两种类型。
天线性能测量是指在实验室中对天线进行的各种性能测量,如天线方向性、增益、波束宽度、阻抗、驻波比、VSWR等参数的测量。这种测量通常在标准化的实验室环境中进行,以便进行准确的比较。
天线场强测量是指在实际环境中对天线进行的测量,以确定天线在现场的性能和效果。这种测量通常通过在天线附近放置信号源,例如微波发射器和天线调谐器,来检测天线的性能。这种测量的目的是为了提高天线在实际环境中的性能。
在天线测量中,通常使用几种技术和设备来测量天线的性能和参数。这些技术包括:
球面扫描技术是一种先进的天线测量技术,它能够生成天线辐射方向图。该技术利用一系列射线,或者扫描梳状节数组来扫描天线的球面。扫描得到的数据可用于生成天线的方向图,该方向图描绘了天线的辐射方向性和增益等参数。
建立楼顶实验室是一种方便、快速、低成本并且原始的天线性能测量技术。这种技术通常是在楼顶的空旷区域中进行的,使用天线发射信号并接收返回的信号。然后通过测量这些信号的时间,测量出天线的方向性、增益等性能参数。
静差法是一种常见的天线参数测量方法,它通过测量天线端口上的反射系数来计算天线的阻抗和驻波比等参数。使用静差法需要一台网络分析仪,该仪器可以甄别动态参数,并输出天线参数。
调频滤波器法是一种用于测量天线阻抗和VSWR等性能参数的方法。它使用一些电调滤波器,测量信号的频率响应,然后将数据输入计算机中分析,以计算出天线的阻抗、VSWR和驻波比等性能参数。
天线测量是研究天线性能和天线参数的过程,可以分为天线性能测量和天线场强测量两种类型。测量过程中,通常使用球面扫描技术、建立楼顶实验室、静差法和调频滤波器法等技术和设备。