JTAG（Joint Test Action Group）是一种调试和测量电子设备的标准接口，为现代数字电路提供了一种通用而强大的接口。JTAG接口是干什么的？下面将从以下几个方面详细阐述。
JTAG接口最初是为了用于集成电路的调试而设计，尤其是例如FPGA、微处理器等数字电路系统的调试。JTAG利用串扰技术（daisy-chaining）连接集成电路中的各个测试点，以快速诊断故障和定位缺陷。此外，JTAG也用于电路板的生产测试、检查电路连接状态和验证硬件功能。
在实时操作系统（RTOS）的开发过程中，JTAG还可以作为调试工具使用，提供软件调试和性能分析的能力。通过在JTAG接口上追踪软件实现的状态，开发人员能够在的操作系统的启动、运行过程中追踪内部状态、检查程序计数器、查看缓存错误、检查任务的调度等。
JTAG接口使用Test Access Port(TAP)（测试访问端口）和Test Access Bus(TAB)（测试访问总线）两个部分构成。
TAP操作用于在设备内部访问测试逻辑，TAP本身就是一个独立的长袜子，由一个或多个模块布局。TAP模块的基本功能是提供对电路内部数据的状态扫描能力以及对各个模块的控制和访问能力。
JTAG的核心原理是：将测试逻辑用扫描存储器表示，并将扫描存储器串接起来形成一个长链；通过对链的各个位置注入数字信号，就可以对测试逻辑进行读写操作。实际上，每一个串联的扫描寄存器就是一个Test Access Point（TAP）。
JTAG最初由Joint Test Action Group定义为一种标准接口协议，正式名称为IEEE 1149.1-1990 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture。此标准接口是独立于处理器的边界扫描技术，提供了一种简单而通用的方法来访问芯片内部的所有单元。后来，该协议得到了更多扩展和修改，如IEEE 1149.1a/b/c等。
JTAG接口是一种通用而强大的接口，较其他调试接口拥有更多的优点。相对于串行线调试接口，JTAG可以带来更高的速度和灵活性，同时也不需要多个调试块，可以减少电路复杂度。相对于JTAG之前的调试方式，JTAG的优点在于可以稳定、高速地访问芯片内部各信号和寄存器，可以在不破坏电路的情况下进行调试和测试。
总之，JTAG接口为集成电路的调试和测试提供了一种简便的方法。此外，由于其数据通路和控制逻辑的独立性，JTAG适用于不同类型的IC，可快速准确地识别故障和调试问题。
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