半导体封测是指将已切割好的晶圆芯片(wafer)在进行良率筛选、单个封装、测试、选级,直至最后装箱出货时的一系列成品加工流程。具体而言,半导体封测包括晶圆片的裸芯片测试(wafer sort)、单个封装测试(final test)和选级质检(binning),使其能够适应多种应用场合的使用要求。
半导体封测的主要作用是将原始的芯片进行成品加工,提高芯片的可靠性、稳定性和兼容性,为芯片使用者提供更加高质量、更加可靠的产品,同时也是保证芯片产业稳定发展和提高产业竞争力的重要环节。
半导体封测作为芯片生产过程中的最后一道工序,直接关系到成品的品质和价值。例如,单个封装测试可以有效筛选出因封装过程引起的质量问题,提高成品芯片的可靠性,降低客户投诉率;选级质检可以根据芯片的质量等级进行分类,并根据客户需求对芯片进行配对,提高芯片的应用和兼容性。同时,半导体封测也是芯片制造过程中利润空间较高的环节,具有较好的市场前景。
随着人工智能、物联网等新一代信息技术的发展,对芯片的需求越来越高,未来半导体封测将需要更加关注成本、速度、质量和功能性的平衡,同时需要具备更强大的个性化定制能力,以满足不同客户的需求。而传统的封装方式也在变革之中,如柔性电子领域逐渐普及使用的薄膜封装技术等,这些新的封装技术将会成为未来半导体封测的趋势之一。