PMOS的1/f噪声比NMOS大,主要是因为PMOS中的阱效应。
当PMOS的栅极电压高于源极电压时,PMOS中会形成一个深度很浅的阱。在这个阱中,会积累一些电荷,并引起电子迁移现象,从而产生噪声。而NMOS不存在这种阱效应。
同时,阱效应还可能导致PMOS的漏电流增加,从而进一步增大其1/f噪声。
PMOS的1/f噪声除了受阱效应影响外,还受PMOS的热噪声和器件参数的不同影响。
PMOS的热噪声通常比NMOS小,但当PMOS和NMOS的器件面积相同时,PMOS的1/f噪声却通常比NMOS大。其中一个原因是PMOS和NMOS的子阈值参数不同。在相同的偏置条件下,PMOS的子阈值参数比NMOS大,而1/f噪声正比于子阈值参数的平方根。
总体而言,PMOS的1/f噪声比NMOS大,主要是由于其受到阱效应的影响。此外,PMOS和NMOS的器件参数的不同也会影响它们的1/f噪声。因此,在设计电路时,需要特别注意1/f噪声对电路性能的影响。