在射频测试中，带外抑制的高低常常与信号源质量有关。信号源的输出端存在掉电耗，内部反射和杂散发射等问题，这些问题都会使信号源的输出带外噪声电平高，导致带外抑制性能差。
信号源的输出端掉电耗表现在输出端电阻变化，随之导致输出信号失真和幅度下降，这会对带外抑制带来很大的影响。另外，信号源内部反射和杂散发射会产生额外的噪声和谐波，导致带外抑制性能降低。
因此，要在射频测试中获得更好的带外抑制性能，必须选择质量良好的信号源。
在信号传输过程中，会发生一定程度的信号衰减和传输损失，这也会影响到射频测试中的带外抑制性能。
首先，信号传输中会发生很多基本损耗，如电缆的衰减损耗和信号反射等。另外，还会出现电缆电容、电感和串扰等非理想因素，从而引起一些干扰和响应失真，这些因素都会降低带外抑制性能。
因此，在进行射频测试时，需要注意选择合适的信号传输方式和合适的补偿技术，以使信号传输过程中的基本损耗最小化，以获得更好的带外抑制性能。
除了信号源和信号传输损耗外，测试设备本身的质量也会对带外抑制性能造成影响。
测试设备中存在多个元器件和接口，这些元器件和接口的质量和匹配性能，直接决定了带外抑制性能的好坏。例如，衰减器的抗插入损耗性能不好和稳定性差，会导致带外抑制性能变差。
测试时，设备的阻抗匹配也是一个重要的考虑因素。若阻抗不匹配会导致回波和信号反射，从而影响带外抑制性能。
另外，测试设备的固有噪声和杂散响应也会影响带外抑制性能。因此，在选择和配置测试设备时，需要注意设备的设计特点和参数，以确保测试设备具有足够的性能保证。
测试环境中存在的干扰也是影响射频测试中带外抑制的重要因素之一。环境干扰主要包括电磁干扰和热噪声干扰。
电磁干扰主要产生于测试设备和测试环境中存在的其他电子设备，如电视机、电脑、手机等。这些设备会产生强电磁场干扰，从而干扰测试信号的带外抑制性能。
热噪声主要来源于环境温度波动和测试设备本身的温度波动，这些波动会引起许多热噪声，从而导致带外抑制性能变差。
因此，在射频测试中，需要在测试环境中减小干扰源，避免测试设备和测试环境中温度波动，以保证带外抑制性能。
关注微信