jtag是什么 JTAG介绍及工作原理

JTAG是什么？

JTAG（英文全称为Joint Test Action Group）是一种集成电路板上的标准测试接口。它最初是由一组半导体生产商和测试工具的生产商在1985年组成的联合测试行动小组所发明。它是一种用于测试、调试、验证电路板上的数字电路的标准接口。

JTAG的原理

JTAG接口规范由四个操作组成：Test-Logic-Reset （TLR）、Run-Test (RTI)、Shift-IR（SIR）和Shift-DR（SDR）。

其中Test-Logic-Reset（TLR）用于将整个系统中的测试逻辑单元回到测试模式，这是进行测试的前提条件。然后通过Shift-IR和Shift-DR来上传（或下载）测试程序到目标板的测试逻辑单元（JTAG装置的IR或DR），或者通过Read-Write操作来读取或写入JTAG装置的内部寄存器。最后通过Run-Test操作，执行上传的测试程序，进行实际的功能验证和性能测试。

JTAG接口一般由4、6、10或14根线组成，其中最常见的是10根线的接口，即TMS、TCK、TDI、TDO、TRST、RTCK、SRST、DBGRQ、DBGRQACK和EMUREQ等。

JTAG的应用

在集成电路的设计中，JTAG通常用于集成电路芯片的验证和测试。它可以用来检测设计错误，通过比较芯片的模型和模拟器生成的模型，来发现芯片的故障。

在硬件调试和维护方面，JTAG可以用于调试可编程逻辑器件（FPGA、CPLD）、处理器等IC设备。通过与调试工具（例如JTAG ICE、Trace 32）的连接，可以控制、监控系统在调试板上的运行状态。它可以在硬件层面进行单步调试，甚至能够看到程序的执行过程中的各种状态情况，大大提高了调试的效率。

JTAG的未来

随着技术的发展，在未来的移动设备和嵌入式系统中，越来越多的处理器、内存、电源管理等模块，都将会拥有JTAG接口，并且JTAG技术也会朝着高速、高精度、高可靠性方向快速发展。此外，与JTAG相关的测试和调试技术，例如Boundary Scan、Functional Test、In-System Programming和FMEA等，也会更加成熟，为IC芯片的验证和测试提供更好的支持。