MOS是金属氧化物半导体晶体管的缩写,是电子元器件中常用的一种,往往需要对其进行静电测试,以确保良品率。下面将从以下几个方面介绍静电测试及其相关测试仪的选择。
静电测试是通过对元器件施加一个稳定的静电电场,同时记录元器件失效时的电场强度,以此判断其对静电敏感性能的测试方法。该测试方法的难点在于如何精确的控制静电场并快速记录失效时的电场强度。
选择测试仪时需要考虑以下几个方面:
不同的测试仪适用于不同范围的元器件。对于MOS晶体管来说,需要具备一定的测试范围,并搭载与其相关的测试软件和测试夹具。
测试速度也非常重要,因为静电测试需要在不同电场强度下进行,测试速度的快慢与测试结果的准确性密切相关。
在选择测试仪时还需要注意其测试精度,同时也需要考虑其它特性,如测试仪的易用性、维护成本等。
针对MOS晶体管的静电测试,Feasycom提供了多款测试仪,其中FCT-4000A可以通过标准诱导静电配置达到能够测试MOS晶体管的静电敏感性能,其测试电压范围介于±100V至±8KV之间,测试速度也非常快,仅需1秒钟即可完成一次测试。同时,FCT-4000A还具备对测试过程和结果的自动存档功能,以便后续分析和处理。
当然,还有一些其它厂家提供的静电测试仪可供选择。需要根据实际需求进行比较,选择适合自己的测试仪才能够实现MOS晶体管的静电测试。