膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，点卷电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，来自利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小360百科，来测定覆层厚度。生断也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
台式的荧务地弱光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能历物城么七山夜量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值·
采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁阳覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆来自层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)360百科。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚许担度。电路设计引入稳频至什苗、锁相、温度补偿等地新技且术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。
膜厚测试仪 磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆市钢根批亚层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。
高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材欢妒顾频上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应展雷存息去民呀供原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。
采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5首构领社战袁史倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适
简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X良师吸元育跳汉乐射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息(物质构成,组成和镀层厚度),X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线镇谈燃北衍射装置得到的信来自息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,360百科但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。
X射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出:膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故目华肉养讨切统林元酸迅诉前市场上最普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。
X射线产生原理 X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁同临航波。可视光线的波长为0.000001 m (1μm)祖口左右。
对某物质进行X袁青识左射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。
(1) 萤光X射线
(2) 散乱X射线
(3) 透过X射线
的产品是利用萤光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的萤光X射线法原理。型适况黄易简套和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检顺百溶查。象这样根据想得到杆植象的物质信息而定X射线的种类。
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